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國研院攜手汎銓 攻克High-NA EUV製程檢測技術

鉅亨網·2026-10-27 19:35·總體
#汎銓#艾司摩爾#半導體#國研院#國科會#紫外光
國研院攜手汎銓 攻克High-NA EUV製程檢測技術
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148 字

國研院國儀中心攜手汎銓發表高NA EUV光阻材料微影後結構分析瓶頸解方,鍍膜強化晶圓奈米結構。
全球首度成功鍍膜研究成果獲ASML於國際學術論壇引用,助汎銓打入國際設備商與製造商驗證供應鏈。
國儀中心開發低於100度原子層沉積設備,與汎銓合作在金屬氧化物光阻劑表面形成均勻保護層。

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